News：ニュース速報 2001年6月26日　05:52 更新

富士「スーパーCCDハニカム」をIEEEが表彰

　富士写真フイルムと富士フイルムマイクロデバイスは6月26日，両社の技術者11人が発表した「スーパーCCDハニカム」についての論文が，米IEEE（米国電気電子技術者学会）ワークショップで表彰されたと発表した。

　論文は，両社が共同開発した「すーぱーCCDハニカム」の構造原理について論述した「デジタルカメラ用プログレッシブスキャン方式CCDイメージセンサー」（代表・山田哲生富士フイルムマイクロデバイス設計部担当部長）。「IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS VOL.35」に掲載された。これに対しIEEEは，固体撮像素子についての優れた研究に対する「Walter Kosonocky賞」を贈った。日本人の受賞は初としている。

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