バッチ処理時間を10分の1に短縮、アドバンテストが「SAP HANA」を導入

アドバンテストは、半導体検査装置の統合品質情報システムに「SAP HANA」を導入した。汎用データベース管理システムを利用した従来のシステムと比べて、バッチ処理時間を約10分の1に短縮できた。

[ITmedia]

　SAPジャパンは2020年4月7日、半導体検査装置を手掛けるアドバンテストが同社のインメモリデータベース「SAP HANA」を導入したと発表した。半導体検査装置の統合品質情報システムに活用したという。

アドバンテストの公式Webサイト（出典：アドバンテスト）

　アドバンテストの統合品質情報システムは製品設計段階での品質向上を目的に、市場での障害情報や製造工程内の不良情報、工場から出荷した製品の使用実績などのデータを集約し、分析する。これまでは、汎用（はんよう）データベース管理システムを利用し、週末に1週間分のデータをバッチ処理していた。

　最近では処理すべきデータ量が増加したため、インデックスや並列処理といったチューニングを施したものの、週末の間に処理を完了できない恐れが出てきたという。また、処理全体の複雑化やメンテナンス負荷の増大といった課題も顕在化してきたため、同社はデータベース管理システムの更新を検討していた。

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