レビュー 2011年7月12日 ハイエンドモバイルの破壊と創造、そして――新型「VAIO Z」を徹底攻略する(後編)(関連情報):最先端“Z”を集中テスト [鈴木雅暢(撮影:矢野渉),ITmedia] 記事を見る 記事を見る