ディープフェイクを見破る「電子透かし」技術 東大発AIスタートアップ開発 改ざんを高精度に検知
東大発のAIスタートアップ・TDAI Lab（東京都中央区）は1月22日、ディープフェイク画像の改ざん箇所を特定できる「電子透かし」技術を開発したと発表した。改ざん内容の確認に加え、コンテンツの信頼性を保ったまま情報共有をする際などにも役立つという。
ディープフェイクを見破る「電子透かし」技術 東大発AIスタートアップ開発
電子透かしは、デジタルデータに“人間の目には見えない印”として、そのデータの来歴情報などを埋め込む技術。従来の電子透かしには、データのトリミングやリサイズによって埋め込んだ情報が失われるという課題があったが、TDAI Labではこの課題を克服し、ディープフェイクなどの高度な改ざんにも対応する電子透かし技術を開発した。
電子透かし技術とは
この電子透かしが付いた画像に対してディープフェイクが行われた場合、攻撃によって電子透かしが剥がれた箇所から、受けた攻撃の内容を特定。改ざん位置を検出し、可視化できるという。
開発した電子透かしによるディープフェイク検出例
TDAI Labでは、開発した電子透かし技術のα版をニュースメディアや公的機関を中心に提供開始。実運用に向けて検証を始めるとしている。
TDAI Labは、東京大学大学院教授鳥海不二夫研究室（工学系研究科システム創成学専攻）発のAIベンチャー。2016年に創業し、企業向けにAIシステムの開発・提供などを手掛けている。
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