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» 2018年05月08日 14時56分 公開

良品画像の学習だけで不良品を見分けるAI NECが開発

NECが、良品の画像データを学習するだけで不良品を判別できるAI技術を活用した検品業務向けのソフトウェアを開発した。

[ITmedia]

 NECは5月8日、良品の画像データを学習するだけで不良品を判別できるAI(人工知能)技術を活用した検品業務向けのソフトウェアを開発したと発表した。大量生産の工場ラインで、長時間にわたり均一な判断が求められる検品業務の効率化を図る。

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 同社によれば、従来は良品と不良品の画像を1000件規模でAIに事前学習させる必要があったが、製造精度が高い日本の工場では不良品データを大量に集めにくいという課題があった。

 新技術では、1種類の画像データのみを学習させることで、2種類の画像データを判別できるという「OneClass分類アルゴリズム」を採用し、不良品が出にくい製造業でも、AIを使ったシステムを導入しやすくした。これまでにも同様のアルゴリズムは存在したが、「当社独自の工夫をほどこすことで、弱点だった精度の劣化を最小限に抑えた」(広報担当者)という。不良品の場合は、異常のある部分を色付けした画像を表示し、確認できる。

 この他、操作画面のインタフェースを刷新し、専門家以外でもナビゲーションに従って操作すれば容易に分析できるという。ソフトウェアの価格は375万円(税別)から。今後3年間で300システムの販売を見込む。

 同製品は、展示会「IoT/M2M展」(5月9〜11日、東京ビッグサイト)に出展する。

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